XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于環(huán)境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用，也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩(wěn)定性。$n$nXEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術(shù)，可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析，也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用。